點擊圖片放大商品名稱:
規格介紹:
UniRam 高效能顯微拉曼光譜儀
規格介紹:UniRam 高效能顯微拉曼光譜儀
高效能顯微拉曼光譜儀
-簡易直覺化之操作模式
-方便攜帶與移動
詳細介紹:
UniRAM 是一款集高靈敏度、快速量測與多功能應用於一體的顯微拉曼光譜儀，適用於各類材料的化學與結構分析。其具備非破壞性、非接觸式量測特性，無須樣品前處理，適合研究、品質檢測與法醫鑑識等多元場景。
振動光譜介紹:
分子振動是指分子內的原子間進行週期性的來回運動，振動頻率
位於紅外線區，通常以紅外線吸收光譜 (Infrared Spectroscopy)
或是拉曼光譜 (Raman Spectroscopy) 進行量測。
振動光譜介紹影響振動頻率的主要因素:
1.參與振動之原子質量
2.振動形式
3.原子間鍵結強度
振動光譜所能提供的資訊:
| 分子結構物質 | 結晶性物質 |
1.分子結構判定 | 1.晶格種類判定 |
| 2.異構物分析 | 2.結晶度分析 |
| 3.官能基判定 | 3.材料應力分析 |
儀器特色
- 支援多波長激發光源（405/532/633/785 nm）
- 快速切換雷射光源，搭配11段功率調節
- 高解析CCD偵測器（2048像素，3.5~4.5 cm⁻¹解析度）
- 搭配無光纖設計減少訊號損失
- 內建500萬畫素CMOS影像系統
- 體積輕巧，適合實驗室與現場應用
友善操作介面與光譜分析軟體，支援自動去背景、基線校正與即時光譜
光譜數據採集軟體:
♥附操作手冊 ♥附操作手冊
•可選擇多種數據格式
•可調整最佳參數 , 例如 積分時間、平均次數
•自動去除 Dark/ 背景訊號
•手動 自動基線校正
•自動平滑化處理
•即時光譜影像偵測功能
光譜應用:
| 碳材分析 | 如石墨烯層數、碳纖維結晶度 |
| 多層膜分析 | 斷面結構與分佈觀察 |
| 異物分析 | 如半導體元件、光罩與感光元件表面異物 |
| 材料應力分析 | 如GaN/PET 與藍寶石基板比較 |
| 材料結構與定性分析 | 針對ZrO₂、PESU等材料結構差異及化合物鑑定 |
| 同分異構物鑑別 | 分析如Xylene異構體 |
|
- 表面增強拉曼散射SERS
-
-
- 表面增強拉曼散射SERS
更多商品
UniDRON-semi
專為晶圓材料打造的高精度無損分析利器 UniDRON-Semi 是一款專門針對晶圓製程所設計的共軛焦顯微拉曼光譜儀，具備創新非破壞性分析能力，可用於檢測晶圓中的殘留應力、晶格缺陷、摻雜濃度、材料結構與成分變化，並廣泛應用於半導體製程各階段如晶錠切片、晶圓切割、研磨、CMP、外延、薄膜沉積、蝕刻、離子注入與退火等工 序。 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 關鍵技術亮點 ♥ 共軛焦顯微系統與自動對焦模組 提供高精度的深度掃描與自動影像聚焦。♥ 10 種 UV~NIR 波段激光器選配 滿足各種材料與深度層之需求。♥ 無須樣品前處理 即放即測，快速便利。♥ 非破壞性摻雜濃度演算技術 透過軟體方程式直接定量顯示摻雜分布。♥ ESG 導向 拒絕使用有毒與腐蝕性化學物質。 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 功能模式一覽 功能模式 應用實例 晶圓深度應力分析 薄膜沉積引發的多層壓縮與拉伸應力 晶格結構辨識 區分SiC 4H/6H/15R 等原子堆疊方式 晶格缺陷偵測 側堆層錯、位錯分佈 非破壞性摻雜濃度分析 雙層鋁/鎂離子注入後濃度與應力分布 材料成分定性 殘留物等異物分析 材料結構變化 晶圓切割後的鍵結斷裂與化學變化 技術規格（節錄） 項目 規格 適用晶圓尺寸 6"、8"、12"（最大 300x300 mm） 自動分析時間 8" 晶圓、900 分析點 約 15 分鐘 自動載台精度 XY 解析度 ≧ 50nm，Z 解析度 ≧ 10nm 激光波段 UV（266nm）～ NIR（1064nm）多波段選配 拉曼解析度 0.1–1.0 cm⁻¹、空間分辨率 ≤ 1 μm 偵測器選配 背照式冷卻 CCD、InGaAs NIR 線型感測器 軟體功能 UniSCAN系統控制、光譜映射、定量分析 設備尺寸重量 1860 x 1600 x 1900 mm、2.5 噸 適用市場 半導體製造業 晶圓研發實驗室 材料科學研究機構 第三方檢測單位
XperRAM 系列
🧬產品概述 XperRAM‑S 系列 • 定 位 ：熱銷機型，模組化 Confocal Raman 顯微鏡，適用於多波長分析 （405 / 532 / 633 / 785 nm），亦可客製化支援 1064 nm。 • 掃描範圍 ：40X 目鏡時為 200 µm × 200 µm。 • 高 效 率 ：傳輸式光柵搭配 ANDOR CCD，效能超過 90%。 • 高 SNR ：極少光學元件設計提升訊雜比與光譜解析度。 • 客製彈性高：模組化設計便於整合其他系統，曾應用於與 Cryostat、CVD 設備整合。 XperRAM‑C 系列 •定 位 ： 體積小、成本友善的微型 Raman 系統，單雷射配置，性價比高。 •掃描範圍 ：同樣可達 200 µm × 200 µm。 •單雷射量 ：測通常搭配 532 nm，量子效率最高可達 ~80%。 •效率優勢 ：採傳輸光柵和透射光柵設計，效能超過 90% 。 •超值選擇 ：小型、價格實惠、不失高效率 。 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 🧬 技術共通性 •掃描方式：兩者都使用相同的掃描模組（單 Galvo 鏡頭），可快速掃描大範圍，定位精確 （約 20 nm）。 •光柵設計：採用高效能傳輸式 VPH 光柵，搭配可旋轉更換規格 。 •應用功能：Raman 光譜與地圖繪製、光致發光（PL）、電致發光（EL）皆支援。 •通用軟體：兩者都附 NanoSpectrum 與 NanoControl 行動軟體，支援 .txt/.csv/.spm 資料輸出，也可選裝光譜辨識庫。 📊 規格比較表 項目 XperRAM‑S XperRAM‑C 雷射波長支援 405 / 532 / 633 / 785 nm (可至 1064 nm） 通常為單 532 nm（可選 405 或 633） 光譜系統 (Spectrometer） XPE 200：200 mm 焦距，高效率 CCD XPE 35：35 mm 焦距，配備 Atik detector 掃描範圍（40X） 200 × 200 µm 相同 解像度 & 感光元件 2000 × 256；15 µm 像素 1931 × 1451；4.54 µm 像素 系統彈性 模組化、客製化能力強 單雷射、較簡潔設計 價格與定位 中高階多功能型 入門型、經濟型選擇 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------- ✅ 適用建議 •選 XperRAM‑S：若專案需要多波長、最高效能與深度光譜分析，或有整合 Cryostat 、TRPL、CVD 等高客製化需求。 • 選 XperRAM‑C：預算有限但仍需專業量測，唯一雷射即可滿足需求；適合教學、 基本科研、2D 材料、電池研究等。
Confotec
🔬 Confotec® 高階共焦拉曼顯微鏡系列 Confotec® MR 系列（MR350 / MR520 / MR750）：模組化設計、高解析度、快速映射的共焦拉曼系統。 Confotec® NR500：全台首款自動化 3D 掃描雷射共焦拉曼顯微鏡，具備納米級解析力與多功能分析能力 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 🌟 特性比較一覽 特色 MR 系列 NR500 光譜儀焦長 350 / 520 / 750 mm 通過自訂光譜儀，搭配變倍望遠鏡與單元結構 掃描方式 Galvano 掃描 + XY平台，最快 2–3 秒/1 M 像素圖像 鐳射 3D 掃描，配 Rayleigh／Raman 雙序列成像，最快 3 秒完成 1001 × 1001 像素 空間解析度 高 NA 物鏡下，極佳橫向與軸向解析力 橫向解析度 200 nm；軸向 500 nm 雷射配置 多波長組合（473、532、633、785 nm），最多 5 種 同樣最多支援 5 支雷射（包含 325、473、532、633、785 nm） 截孔控制 多段 motorized pinhole 調整 可變針孔設計（0–1.5 mm，0.5 µm 步階） 系統架構 光纖連接 spectrograph，自由配置擺放 全棒結構，高穩定性設計，無光纖干擾，可支援 AFM 結合 軟體支援 NanoSP 自動控制軟體 同搭載 NanoSP，支援 2D/3D 成像、自動對焦、自動拼圖、高頻背景校正 ✅ MR 系列重點特性 •模組化配置：拉曼光學主機搭載於顯微鏡平台，spectrograph可獨立放置，提升空間利用效率與熱穩定性。 •高速影像能力：Galvano 掃描 + XY 電動平台，最高可達 1001 × 1001 像素，2–3 秒完成快速 2D/3D 拉曼 Mapping。 •彈性雷射組合：支援多波長自動切換，適配不同樣本以避免螢光干擾。 應用領域：半導體、聚合物、生物樣本、奈米材料、藝術、法醫鑑定等。 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- ✅ NR500 核心技術特色 •真正 3D 雷射掃描共焦：雷射掃描配合 confocal pinhole，提供高對比度影像；可同時取得 Rayleigh 反射與 Raman 光譜數據。 •高解析力：橫向 200 nm，加上最佳配置與 NA 物鏡，提供極佳光學成像質量 。 •雙影像模式：Galvano 系統快速掃描單點時間僅 3 µs，EMCCD / CCD 下可於 3 秒取得高解析度圖像 多功能成像分析：集成 Raman、螢光、反射/透射、偏振與光譜圖像分析於一體，支援 TERS、TEPL、AFM 結合。 •高自動化整合：系統整體設計高度模組化、無需光纖即可提升穩定性，可搭配 AFM 一起做 TERS 等高解析研究 。 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 🔧 MR vs NR500：選型指引 •重視體積與擴充：選 MR 系列，保留模組化優勢，適合中高速 Mapping 與學術/工業混合場域。 •追求最高解析與多功能：NR500 是最佳選擇，適合追求亞微米級解析、3D 成像精度與前沿技術整合的應用。 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 🎯 應用與案例推薦 •MR 系列：適合常見材料與快速分析需求，如聚合物取向、奈米粒子分佈、薄膜應力分析等。 •NR500：適用於半導體微構造、細胞級分析、礦物表面研究、藝術品微觀鑑定、TERS/TEPL 實驗等高階研究領域」。
同調反史托克拉曼散射系統CARS
同調反史托克拉曼散射 (CARS) 之訊號主要是藉由多光子與分子振動之非線性交互作用產生。與傳統的螢光技術相比，同調反史托克拉曼散射顯微成像系統之特點在於其不需額外加入螢光染劑便可產生有化學鑑別力之影像並可產生三維影像。此技術具有較低生物破壞性、高解析度及高靈敏度等，可用於化學成分較為複雜之樣品，如生物細胞與組織之成像。 應用範圍： 一、醫學內視鏡技術研究 二、生技與生醫分析 Multimodal CARS/TPEF image of growing cancer cells HeLa: DNA/RNA/Proteins/Lipids colored
UniDRON / UniDRON Plus 微區拉曼/螢光光譜系統
一體化高精度光譜系統 ♠ Olympus BX43 研究型顯微鏡 ♠ 自動化雷射/濾光選擇、訊號切換 ♠ 全自由空間光路，無光纖損耗 高解析成像與掃描功能 ♠ 600萬畫素CMOS攝影機 ♠ 3D掃描平台，XY解析度達 50 nm、Z軸 10 nm ♠ 支援拉曼、PL (螢光)、2D/3D Mapping 成像 極低雜訊 CCD 偵測器 ♠ TE冷卻至 -60°C，低暗電流（1 e-/pix/sec） ♠ 高量子效率（QE 95% @ 600nm） ♠ 永久真空封裝，抗水氣與震動 🛠️ 系統規格一覽 模組 說明 顯微系統 Olympus BX43，支援明暗場與物鏡10x–100x 激發雷射 最多支援5組波長：266 ~ 1064nm（如 532/633/785nm） 光譜儀 焦距 193–1000mm，最多支援4組光柵 偵測器 Back-thinned Deep Depletion -60°C冷卻、2000x256 pixels ND濾鏡 18段可變雷射功率控制，0.001%~100% 掃描平台 電動式XYZ平台，奈米等級定位 軟體功能 光譜擷取、光譜影像分析、資料處理與比對等多模組 🧪 多樣應用場景 ✅ 結構鑑定與光譜指紋區分 ✅ 碳材料分析（石墨烯層數、結晶性等） ✅ 半導體應力與摻雜分析 ✅ 有機/無機分子定量分析 ✅ 原位電化學、高低溫反應監測 ✅ 2D/3D影像掃描與組成分析 🧱 擴充能力 • 原位溫控與氣氛反應腔體 • 專屬 AFM-Raman/NSOM 整合模組（與 Strink 合作） • 可客製多波長激發源與探測端口 應用案例 擴充時間解析螢光光譜系統於太陽能電池材料檢測 擴充高低溫反應池於材料臨場實驗 多波長檢測技術應用於半導體錯誤分析(FA)實驗室及研發單位 定性分析 定量分析 石墨烯 半導體 二維材料 UniDRON Brochure 下載
