EDS

特色

全面完整的能譜分析系統

• 準確的峰識別和定量分析

• 與全標樣分析相媲美的無標樣定量分析技術
• X射線圖和線掃描儀具有完整的矩陣校正和背景扣除功能
• 獨有使用COMPASS分佈分析系統
• 全系列X射線探測器，傳感器有效面積從10到100 mm²，專用狹縫式准直儀最大X射線
• 實時分析，以及用於無限分析站的完整站點許可證，具有完整性的數據。
• 靈活易用的數據報告。通用常見格式：用於光譜的EMSA，用於圖像的TIFF，用於表格數據和線掃描的CSV。

UltraDry 能譜儀探測器

特色_使用 UltraDry 可提升你的效率

• 獨一無二具有高通量和寬範圍的工作距離的准直器
• 可選擇的有效晶體面積為：10 , 30, 60 和 100 mm²

• 輸入計數率最大可超過每秒 1 百萬
• 最小規格的探測器直徑以得到最佳的探測立體角
• 無液氮，無須維護

定量面分佈

可針對樣品中的每一個點做出全面性的定量分析

全譜圖像 X 射線微區分析

全譜圖像是微區分析的革命性改變。
對於圖像，X 射線面分佈，對於線掃描以及高級的自動分析而言
一一對應每一個採集點的譜圖是關鍵核心。
點擊一個按鈕，NORAN 系統 7 即可一次
即可採集所有資料無需二次採集或者改變採集參數。
一旦資料采集完成，你可以選擇在電鏡上完成分析
也可以在其他安裝有分析軟體的電腦上離線分析

上圖1.自動多點分析 品質控制 化學型分析 譜圖匹配 有標樣定量分析 定性分析 失效分析
上圖2.線掃描 剖面分析 介面測量
上圖3.定量面分佈 真實的元素分佈 定量相分佈
上圖4.COMPASS準確的相分佈 痕量元素分佈 細微相分佈

COMPASS

COMPASS 經由對每一個象素點特有的譜圖統計分析、
比對和歸類，而非簡單的元素鑒別。
歸為一類的關聯圖元點就成為一種物相
COMPASS 對每一個物相進行背底扣除 , 基體修正 , 譜峰去卷積 , 譜峰鑒定和定量分析
依據譜圖資料庫採用譜峰匹配分析就可以識別每一個獨特的物相