代檢服務:

        景鴻本著服務客戶的理念,提供優質的樣品代分析服務,希望能提供客戶數據比對,分析方法開發及採購新設備上的參考。

分析項目為:

1. 顯微 Raman 光譜分析。

2. PL光譜分析。

3. 時間解析PL光譜 (TRPL) 分析。

  1. 4. X-ray 繞射光譜 (XRD) 分析。
  2. 5. X-ray 元素螢光分析 (XRF)。

6. 穿透式電子顯微鏡 (TEM) 分析

7. 掃描電子顯微鏡 (SEM) 分析
8. 氣相層析質譜儀 (GC-MS) 分析
9. 原子力顯微鏡 (AFM) 分析
10. 近場掃描式光學顯微鏡 (NSOM) 分析
11. 導電原子力顯微鏡 (CFM) 分析
12. 壓電顯微鏡 (PFM) 分析
13. AFM-Raman 分析

  

以上分析項目均會酌收耗材及書面報告費用,如需分析原始數據檔,敬請事先提出。

  

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