EM4SYS AFM

Nano Xpert II 原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscopy, AFM)

個人化桌上型AFM系統，可搭配各廠牌之探針，體積小、不占空間，模組化軟硬體設計搭配快速校正程序，初學者也能輕易上手。

簡易操作程序

磁吸式探針座，搭配高倍率顯微鏡及高解析度觀測攝影機，非專業操作人員亦可快速進行雷射訊號校正。

高解析度影像

XY軸掃描控制器提供VCM type與PZT type兩種選擇，最大掃瞄範圍 200mm × 200mm (VCM type，選配)，最高解析度可達0.2nm。Z軸方向配備PZT type掃描控制器，最大掃瞄範圍7 mm，解析度可達0.02nm。另可選配30mm × 30mm電動平移載台，提升操作便利性。

整合式操作軟體

提供Contact、NonCantact、Tapping與側向力 Lateral Force 量測模式，直覺化軟體操作介面，只需簡單的參數設定即可開始進行掃描。另外整合AFM分析軟體，提供快速的影像處理與數據分析。

操作軟體:

應用: