Xper-PC 點擊圖片放大
商品名稱:

Xper-PC

規格介紹:

光電電流成像與量測裝置

詳細介紹:

📘 Nanobase 光電電流成像系統介紹

Nanobase 推出兩款針對光電特性分析的儀器:Xper-PC 與 Phocuscan。前者為模組化測試平台,後者則為自動化光電流掃描系統。針對太陽能電池、光偵測器、OLED 等元件的 I-V 曲線、EQE/SR/Responsivity 等光電參數進行高效量測與成像。

Xper‑PC 提供高性價比的光電電流(photocurrent)影像與量測功能,特別適合半導體與太陽能電池開發研究領域,是由客戶定製化專案演化而成的產品

功能特色

  • »光電電流影像:可呈現材料在光照下的電流分佈。
  • »量測能力:支援 source/drain 與 gate 的依賴性量測

技術規格

  • »模組結構:搭配 MS Tech、Semishare 探針台、光柵掃描模組(400–1000 nm)
  •                       與 Keithley 2400/2600 系列電源計。
  • »顯微鏡平台:包含機械 XYZ 平臺與 10×、40× 長工作距離物鏡。
  • »軟體支援:NanoPhotocurrent 系列軟體,可匯出 .csv 映像資料

 

 

Phocuscan — 自動化掃描光電電流顯微鏡

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基本概述

Phocuscan 是 Nanobase 首款獨立式掃描光電電流顯微鏡,設計精巧,功能強大,搭載多支高性能多軸磁性微調探針與自動切換量測模式功能

功能特色

  1. 專用設計:針對 photocurrent 設計之獨立平台,兼容各式物鏡、光學轉盤、偏振片與中性濾
  2.                     光片。
  3. 高精度探針:可配置最多四支磁性多軸微調探針,掃描模組與 XperRAM 系統共用
  4. 智慧自動化:軟體提供 NanoPhotocurrent 全方位設備設定與掃描功能,同時具備自動切換
  5.                        模式能力

系統比較與應用場景

項目

Xper‑PC

Phocuscan

系統形式

顯微鏡平台整合光電模組

獨立掃描顯微鏡平台

掃描模式

雷射掃描,非樣品移動

激發光源

405 nm, 532 nm, 633 nm, 785 nm可選,可整合於拉曼光譜系統

相容雷射波長:400 ~ 730 nm 和 780 ~ 1,000 nm

探針配置

客製探針台

多達 4 支磁性多軸微調探針

光源範圍

支援 VIS/NIR 波段光源,搭配物鏡

軟體功能

NanoPhotocurrent

完整 NanoPhotocurrent,含自動切換

適用領域

半導體、太陽能元件研究

高度自動化量測,如光電元件分析

  • 若您已有顯微鏡平台並追求整合性高、效能可靠的光電電流量測方案 → Xper‑PC 是理想選擇。
  • 若您需要獨立系統,並重視高精度探針配置與自動化掃描工作流 → Phocuscan 更為適合。