詳細介紹:
📘 Nanobase 光電電流成像系統介紹
Nanobase 推出兩款針對光電特性分析的儀器:Xper-PC 與 Phocuscan。前者為模組化測試平台,後者則為自動化光電流掃描系統。針對太陽能電池、光偵測器、OLED 等元件的 I-V 曲線、EQE/SR/Responsivity 等光電參數進行高效量測與成像。
Xper‑PC 提供高性價比的光電電流(photocurrent)影像與量測功能,特別適合半導體與太陽能電池開發研究領域,是由客戶定製化專案演化而成的產品
功能特色
- »光電電流影像:可呈現材料在光照下的電流分佈。
- »量測能力:支援 source/drain 與 gate 的依賴性量測
技術規格
- »模組結構:搭配 MS Tech、Semishare 探針台、光柵掃描模組(400–1000 nm)
- 與 Keithley 2400/2600 系列電源計。
- »顯微鏡平台:包含機械 XYZ 平臺與 10×、40× 長工作距離物鏡。
- »軟體支援:NanoPhotocurrent 系列軟體,可匯出 .csv 映像資料
Phocuscan — 自動化掃描光電電流顯微鏡
基本概述
Phocuscan 是 Nanobase 首款獨立式掃描光電電流顯微鏡,設計精巧,功能強大,搭載多支高性能多軸磁性微調探針與自動切換量測模式功能
功能特色
- 專用設計:針對 photocurrent 設計之獨立平台,兼容各式物鏡、光學轉盤、偏振片與中性濾
- 光片。
- 高精度探針:可配置最多四支磁性多軸微調探針,掃描模組與 XperRAM 系統共用
- 智慧自動化:軟體提供 NanoPhotocurrent 全方位設備設定與掃描功能,同時具備自動切換
- 模式能力
系統比較與應用場景
項目 | Xper‑PC | Phocuscan |
系統形式 | 顯微鏡平台整合光電模組 | 獨立掃描顯微鏡平台 |
掃描模式 | 雷射掃描,非樣品移動 | |
激發光源 | 405 nm, 532 nm, 633 nm, 785 nm可選,可整合於拉曼光譜系統 | 相容雷射波長:400 ~ 730 nm 和 780 ~ 1,000 nm |
探針配置 | 客製探針台 | 多達 4 支磁性多軸微調探針 |
光源範圍 | 支援 VIS/NIR 波段光源,搭配物鏡 | |
軟體功能 | NanoPhotocurrent | 完整 NanoPhotocurrent,含自動切換 |
適用領域 | 半導體、太陽能元件研究 | 高度自動化量測,如光電元件分析 |
- 若您已有顯微鏡平台並追求整合性高、效能可靠的光電電流量測方案 → Xper‑PC 是理想選擇。
- 若您需要獨立系統,並重視高精度探針配置與自動化掃描工作流 → Phocuscan 更為適合。