影像掃描快速,可直接進行縱向掃描與量測。適用於晶圓、半導體、LED材料的表面及內層分析,亦可應用於蛋白質螢光與基因螢光影像分析。
★ 陣列式晶片,快速影像掃瞄系統
★ 長時間影像記錄
★ 縱深掃描與量測
產品特色
- - 適用於所有市售顯微鏡
- - 最高解析度512 × 512 pixel
- - 影像更新速率5 frame/sec (512 × 512 pixel)
- - 可選配共軛焦自動控制狹縫
- - 400nm – 750nm偵測範圍,可選配其他波長偵測範圍
- - 最高可配備2組PMT偵測器
應用
★ 材料表面與內層、晶圓、半導體與 LED 分析
★ 螢光蛋白與基因螢光影像分析
★ 多重螢光影像
★ 3D 立體影像重建
規格:
Laser | 405nm, 470nm, 488nm, 532, nm 561nm, 635nm, 658nm, Selectable source Power control : continuous step ( related driver module) |
Microscope | Compatible to every microscope body. (needed to video port) To combine with every type of commercial microscope: Leica microscope, Zeiss microscope, Nikon microscope, Olympus microscope, Upright and Inverted and etc. |
Scanner type | Two galvanometer optical scanners |
Scan resolution | 128*128 pixel , 256*256 pixel, 512*512 pixel |
Scan speed | 1.5 frame per second ( 512*512 pixel) |
Scan zoom | 1X-16X ( optical zoom) |
Confocal Pinhole | Fixed pinhole, or 16-position motorized pinhole |
Detection range | 400nm-750nm or customizable [PMT] |
Number of detector | Up to 2 , or customizable |
Software | Language : LabView Main function: Operation/ Image processing/ Color merge Line profile/ Histogram |