顯微共軛焦時間解析螢光光譜成像系統
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商品名稱:

顯微共軛焦時間解析螢光光譜成像系統

螢光壽命顯微影像分析系統 (FLIM)

詳細介紹:

顯微共軛焦時間解析螢光光譜成像系統,即螢光壽命顯微影像分析系統(FLIM),是採用時間相依光子計算技術進行成像分析。

 

此系統可用來分析單一時間解析光譜之外,亦可藉由雷射掃描鏡 (LSM) 進行螢光壽命之成像分析,亦可進一步進行螢光壽命瞬態影像掃描。

 

此技術可架設於任何顯微鏡,亦可進行多通道偵測,即多波長之時間解析光譜或影像分析。

 

應用範圍:

一、半導體材料科學

二、生技與生醫分析

三、發光元件分析

四、太陽能系列分析

 

Fluorescence lifetime Imaging Microscopy (FLIM Systems)

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